Единственный полностью интегрированный гибридный пиксельный детектор электронов с программным обеспечением Gatan Microscopy Suite для расширенных исследований дифракции электронов. |
ПОДРОБНЕЕ |
Камера K3 оптимизирована для самых сложных задач с низким уровнем освещения как в биологических науках, так и в исследованиях материаловедения.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Первая в мире счетная высокоскоростная широкоформатная камера для микроскопии in-situ.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Камера для захвата изображений и видео с разрешением 16 МП для любых TEM-задач. |
ПОДРОБНЕЕ |
Гарантирует высокое разрешение изображений с низким уровнем искажений для количественных пространственных измерений на вашем ПЭМ. |
ПОДРОБНЕЕ |
CMOS--камера, сочетающая высокое разрешение, скорость и простоту использования. |
ПОДРОБНЕЕ |
Система GATAN Cross Section Kit, оптимально подходящая для изготовления образцов поперечной просвечивающей электронной микроскопии (XTEM) полупроводниковых приборов, тонких пленок различных подложек и композитов.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система Cryoplunge ™ 3 с технологией GentleBlot ™ используется для приготовления замороженных гидратированных образцов для криоэлектронной микроскопии (cryo-EM).
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Dimple Grinder II предлагает быстрый и надежный механический метод предварительного разбавления до прозрачности, близкой к электронной, что позволяет значительно сократить время ионного измельчения и избежать неравномерного разбавления.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Disc Grinder подходит для предварительного утонения и полировки образцов, что сокращает время ионного измельчения и улучшает качество работы.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Disc Punch оптимально подходит для резки дисков просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) из металлов, сплавов и всех пластичных материалов.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система GATAN Ilion II System оптимально подходит для подготовки поверхности с низким энергопотреблением для просмотра поперечного сечения SEM.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система ионно-лучевых пучков аргона GATAN PECS II System, предназначенная для полировки и нанесения покрытия на образцы для визуализации и анализа методом СЭМ.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Gatan 695 PIPS II — система ионного утонения для высококачественной подготовки образцов в просвечивающей электронной микроскопии в материаловедении. Она позволяет управлять всеми параметрами подготовки образцов, создавать собственные профили параметров работы, а также стандартизировать и оптимизировать процесс пробоподготовки в целом.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Плазменный инструмент GATAN Solarus II Plasma Cleaner для удаления углеводородных загрязнений из образцов и держателей TEM и SEM.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Система GATAN Ultrasonic Cutter позволяет разрезать хрупкие материалы от дисков TEM 3 мм до точных отверстий или уникальных форм.
|
ПОДРОБНЕЕ |
Единственный полностью интегрированный гибридный пиксельный детектор электронов с программным обеспечением Gatan Microscopy Suite для расширенных исследований дифракции электронов.
Камера для захвата изображений и видео с разрешением 16 МП для любых TEM-задач.
Гарантирует высокое разрешение изображений с низким уровнем искажений для количественных пространственных измерений на вашем ПЭМ.
CMOS--камера, сочетающая высокое разрешение, скорость и простоту использования.
Заполните форму ниже,
и наши специалисты свяжутся с вами
Ваша корзина пуста. Положите товар в корзину, чтобы оформить заявку.