Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Интерференционную картину можно наблюдать как в белом, так и в монохроматическом свете.
Измерение параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей, а также толщин пленок по высоте уступов, образованных краем пленки, производят с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-16х или фотоэлектрического окулярного микрометра ФОМ-2-16х* с автоматической обработкой результатов измерений.
Отличительные особенности:
- Использование микроинтерферометра в сочетании с фотоэлектрическим окулярным микрометром позволяет повысить точность измерения параметров шероховатости в два раза и производительность процесса измерения в 10-15 раз.
-
В качестве источника света в микроинтерферометре используется светодиод белого свечения, который обеспечивает наилучший контраст и яркость интерференционных полос, а также высокую чувствительность метода и стабильность интерференционной картины.
-
Низкое питающее напряжение светодиода, отсутствие нагрева и высоких пусковых напряжений, а также отсутствие хрупких элементов гарантируют высокий уровень безопасности при эксплуатации.
Области применения:
- Машиностроительная промышленность.
-
Научно-исследовательская деятельность институтов, занимающихся вопросами качества поверхностей.