OLYMPUS BX53 может применяться практически во всех областях науки и техники.
Современная металлография предъявляет все большие требования к инструментам исследования. Olympus BX53 отличается применением нового метода контрастирования — направленное темное поле (DDF), а также возможностью применять два метода контрастирования единовременно (MIX). Работает в проходящем и отраженном свете.
Часто используется как металлургический микроскоп. Исследование шлифов, благодаря инновационный решением наиболее удобно и эффективно на микроскопе BX53.
Основные характеристики OLYMPUS BX53:
- Общий диапазон увеличений от 12,5 х до 1500 х.
-
Методы контрастирования: светлое (BF), темное поле (DF), поляризация (ортоскопия и коноскопия), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), флуоресценция (Fluo), DDF, MIX (DDF+BF, DDF+Fluo и пр.).
-
Новые решения в обработке изображений — расширенный фокус (EFI), автоматическая сшивка (MIA), построение 3D модели объекта (EFI 3D).
-
Возможность установки высоких образцов до 105 мм.
-
Возможность укомплектовать микроскоп ИК и УФ — модулями.
-
Микроскоп может быть полностью моторизован.