D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.
Основные характеристики D8 DISCOVER:
- Градиентная параллельно-лучевая оптика — зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок.
-
Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяют упростить процесс съемки.
-
Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов.
-
Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований.
-
Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев.
-
Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства.
-
Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения.