Микроскоп CIX100 позволяет быстро получать, обрабатывать и документировать результаты контроля технической чистоты, в соответствии с международными стандартами.
Система предоставляет пошаговые инструкции в ходе всего рабочего процесса, так что даже неопытные операторы могут быстро и легко получить данные о технической чистоте компонентов.
Высококачественные оптика, цифровая камера и специализированное программное обеспечение гарантируют получение высококачественных изображений и точную обработку загрязняющих веществ и частиц примесей от 2,5 мкм до 42 мм.
Крупные частицы реконструируются путем соединения всех изображений объекта.
Изображение проверенной мембраны фильтра автоматически сохраняется для повторной обработки/повторного расчета.
Запатентованный осветитель позволяет различить отражающие и неотражающие частицы за одно сканирование, тем самым сокращая время контроля в 2 раза.
Основные характеристики OLYMPUS CIX100:
- Диапазон увеличения от 12,5 до 100х.
-
Рабочая станция с сенсорным дисплеем.
-
Пошаговые инструкции на протяжении всего рабочего процесса.
-
Новая технология одновременного обнаружения отражающих и неотражающих частиц.
-
Анализ частиц в соответствии с выбранным стандартом.
-
Эргономичный пользовательский интерфейс.
-
Отображение результатов в режиме реального времени во время сбора данных.
-
Создание отчета нажатием одной кнопки.