Дифрактометры рентгеновские BRUKER семейства D8 DISCOVER

BRUKER D8 DISCOVER — семейство высокоточных рентгеновских дифрактометров для комплексных исследований структуры и свойств материалов. Приборы предназначены для решения широкого спектра задач: от фазового анализа до высокоразрешающей дифракции, исследования тонких пленок, текстур и остаточных напряжений.

Ключевые характеристики

Семейство D8 DISCOVER объединяет три модели, ориентированные на различные исследовательские задачи.

D8 DISCOVER
Универсальный рентгеновский дифрактометр для исследования порошковых, поликристаллических и тонкопленочных материалов. Модульная конструкция, широкий выбор рентгеновской оптики и детекторов позволяют выполнять фазовый анализ, XRR, HRXRD, исследования текстуры, остаточных напряжений и микродифракцию.

D8 DISCOVER Plus
Высокоточная исследовательская система на базе гониометра ATLAS, предназначенная для сложных структурных исследований. Обеспечивает точность позиционирования дифракционных пиков ±0,007° 2θ и поддерживает In-Plane дифракцию с использованием дополнительного неплоскостного плеча. Оптимально подходит для исследования тонких пленок, эпитаксиальных структур и современных функциональных материалов.

D8 DISCOVER HE
Специализированный дифрактометр для высокоэнергетической рентгеновской дифракции с использованием источников Mo и Ag. Обеспечивает исследование локальной атомной структуры, аморфных и нанокристаллических материалов, а также высокопоглощающих объектов. Поддерживает PDF-анализ и эксперименты in situ / operando, включая исследования аккумуляторных систем.

Исследование кристаллических и поликристаллических материалов.
Фазовый и количественный анализ.
Высокоразрешающая рентгеновская дифракция.
Исследование тонких пленок и многослойных структур.
Анализ текстуры и остаточных напряжений.
Исследование наноматериалов и аморфных структур.
Изучение структурных изменений в процессе экспериментов in situ / operando.

Применение	структурный и фазовый анализ, напряжение и текстура, некомпланарная дифракция и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, картирование обратного пространства, высокоразрешающая рентгеновская дифракция, рентгеновская рефлектометрия

Применение

структурный и фазовый анализ, напряжение и текстура, некомпланарная дифракция и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, картирование обратного пространства, высокоразрешающая рентгеновская дифракция, рентгеновская рефлектометрия

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER Plus

Дифрактометры рентгеновские BRUKER семейства D8 DISCOVER

Выберите направление