Рентгеновский спектрометр BRUKER QUANTAX ED-XS

QUANTAX ED-XS - это новый пакет продуктов, сочетающий в себе новый уникальный детектор eFlash XS EBSD с надежным детектором XFlash® EDS в рамках универсального пакета программного обеспечения ESPRIT. Эта комбинация аппаратного и программного обеспечения представляет собой новый подход к предоставлению мощных аналитических инструментов большему сообществу микроскопистов, которому до сих пор не предлагались возможности EBSD.

Ключевые характеристики

Преимущества:

Намного более низкая начальная инвестиционная стоимость.
Очень малое время простоя: замена детектора на месте в течение нескольких дней
Доступные варианты контрактов на обслуживание.
Простой в использовании EBSD: калибровка не требуется, экран заменяется пользователем.
Безопасная работа: когда он не используется, вероятность случайного столкновения со столиком SEM или другими инструментами внутри камеры SEM составляет 0%.

Характеристики:

Полуавтоматическое распределение зерна по размеру и форме.
Количественный анализ микроструктур с использованием поднабора.
Площадь / объемная доля деформированных и рекристаллизованных зерен.
Анализ границ зерен.
Идентификация фаз и анализ распределения.
Корреляция химических и кристаллографических результатов.
Распределение ориентации - анализ кристаллографической текстуры.

Комплект поставки

Широкая линейка SDD-детекторов XFlash площадью 10, 30, 60 и 100 мм2.

Специальные модели SDD-детектора: XFlash 6T для просвечивающих микроскопов и плоский детектор XFlash 5060F, размещающийся непосредственно под электронным пучком.

Рентгеновский спектрометр BRUKER QUANTAX ED-XS

Выберите направление