Дифрактометр рентгеновский BRUKER NANOSTAR

Дифрактометр рентгеновский BRUKER NANOSTAR

NANOSTAR от Bruker AXS дополняет преимущества оборудования SAXS и GISAXS, обладая возможностью приспосабливаться к индивидуальным потребностям различных приложений клиентов.

  • Описание
Описание
Ключевые характеристики
Система NANOSTAR предназначена для исследования рентгеновского рассеяния на малых углах и применяется для изучения включений в подложках и макромолекул в растворах с размерами порядка от 10 до 1000 Ангстрем.

Основные характеристики NANOSTAR:

  • Возможность изменения пробы и параметров падающего пучка.
  • Широкий спектр применений: изучение полимеров, биологических материалов, волокон, металлов, нанопорошков, сложных жидкостей и т.п.
  • Определение размеров, распределений размеров, форм и распределений ориентации в жидкости, порошках или массивных пробах.
  • Возможность автоматизированной работы для рутинных измерений.
  • Изучение наноструктур при малоугловом рассеянии.
  • Составление карты наноструктур посредством рентгеновской нанографии.
  • Определение структуры молекул по результатам рассеяния на больших углах.