Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Cross Section Kit
+7 495 513-13-54
+7 383 383-05-38
0
0
+7 495 513-13-54
+7 383 383-05-38
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Cross Section Kit

Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Cross Section Kit

Система GATAN Cross Section Kit, оптимально подходящая для изготовления образцов поперечной просвечивающей электронной микроскопии (XTEM) полупроводниковых приборов, тонких пленок различных подложек и композитов.
В корзину
Gatan
связаться с нами
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Cross Section Kit
Система пробоподготовки для микроскопии GATAN Cross Section Kit
  • Описание
Описание
Ключевые характеристики
Система GATAN Cross Section Kit оптимально подходит для изготовления образцов поперечной просвечивающей электронной микроскопии (XTEM) полупроводниковых приборов, тонких пленок различных подложек и композитов.

Основные характеристики данной модели:

  • Быстро и легко подготавливает образцы XTEM для изучения интерфейсов TEM с большей согласованностью.
  • При использовании с ультразвуковым резаком позволят вырезать прямоугольные образцы из сыпучего материала для получения покрытых, уложенных и отвержденных срезов с минимальной толщиной клея (<1 мкм).
  • Подходит для подготовки цилиндрических секций к углублению перед ионным измельчением.