Преимущества:
- Чрезвычайно быстрое отображение с использованием только умеренных токов пучка.
- Анализ чувствительных к лучу материалов при очень малых токах луча (<10 пА), например биологические или полупроводниковые образцы.
- Исследование образцов с топографией, избегая эффектов затенения.
- Анализ наночастиц и наноструктур при низком кВ и максимальном увеличении.
- Измерение тонких образцов (например, пластин ПЭМ) и других образцов с низким выходом рентгеновского излучения в СЭМ.
Максимизируйте вашу эффективность.
Уникальная кольцевая конструкция детектора Bruker XFlash® FlatQUAD и его положение между полюсным наконечником SEM и образцом обеспечивают непревзойденный телесный угол, что напрямую способствует более быстрым измерениям. Вместе с программным пакетом ESPRIT QUANTAX FlatQUAD представляет собой идеальный инструмент для анализа, например, чувствительные образцы при минимальных токах пучка или образцы с высокой топографией.
XFlash® FlatQUAD также может превратить ваш SEM или FIB в низковольтный аналитический STEM для более своевременного и экономичного анализа электронно-прозрачных образцов с самым высоким пространственным и спектроскопическим разрешением.
Чтобы получить еще больше информации о ваших электронно-прозрачных образцах, объедините XFlash® FlatQUAD с детектором eFlash EBSD, оснащенным головкой OPTIMUS.