Спектрофотометр SHIMADZU SolidSpec-3700i

Спектрофотометры серии SolidSpec отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона) и большое кюветное отделение.

Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700i — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов.

Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700i/3700i DUV обеспечивает программное обеспечение LabSolutions UV-Vis.

В случае ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа доступна возможность оценки результатов измерения (критерий соответствия/несоответствия). Простой экспорт данных в текстовый или табличный формат повышает эффективность работы.

В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700/3700 DUV и SolidSpec-3700i/3700i DUV успешно решает данную проблему.

Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона.

Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.

Большое отделение для образцов (900 мм x 700 мм x 350 мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700 мм х 560 мм х 40 мм.

Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально.

Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2.

Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом.

Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.

Возможные сферы применения:

• Исследование покрытий: высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий.
• Полупроводники: анализ поверхности полупроводников.
• Оптические материалы: высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне.
• Оптика: высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение.