Электронный микроскоп THERMO FISHER SCIENTIFIC Scios 2

В микроскопе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Ключевые характеристики

В универсальной двухлучевой системе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Разработанный для повышения производительности, точности сбора данных и простоты эксплуатации, микроскоп Scios 2 — это инновационный прибор, идеально подходящий, как для рутинной так и для углублённой исследовательской работы в научных лабораториях, госструктурах и корпоративных отделах НИОКР.

Тип микроскопа	двухлучевая система
Тип образцов	металлы, микроэлектроника, минералы, непроводящие
Разрешение от, нм	0,8
Разрешение до, нм	30
Область сканирования от, мм	0
Область сканирования до, мм	150
Электронная пушка	высокоустойчивая автоэмиссионная пушка Шоттки
Срок службы источника электронов	12 месяцев
Установка и обслуживание пушки	автоматический прогрев, автоматический запуск, отсутствие потребности в механической регулировке положения
Апертуры	автоматизированные нагреваемые
Линза	с двойным объективом, сочетающая электромагнитные и электростатические линзы, 60°
Источник ионов	жидкометаллический галлиевый источник ионов с высокой плотностью тока
Срок службы источника ионов	гарантируется 1 300 часов/2 600 мкА
Ускоряющее напряжение	от 500 В до 30 кВ
Ток зонда	от 0,6 пА до 65 нA, 15 ступеней
Апертурная полоса	15 положений
Увеличение	40×-1,28Mх в зависимости от светофильтра
Режим подавления смещения	входит в стандартную комплектацию для непроводящих образцов
Формирование изображения	в высоком вакууме
Оптимальное рабочее расстояние	3,0 нм (статистика на основе свыше 50 кромок); 5,0 нм (статистика на основе свыше 1000 кромок)
Максимальная ширина горизонтального поля	4,0 мм при рабочем расстоянии 7 мм (соответствует минимальному увеличению до 30x в квадрантном виде)
Предметный столик	Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик
Перемещение в плоскости XY	110×110 мм
Моторизованное перемещение по оси Z	65 мм
Поворот	n x 360°
Наклон	−15° / +90°
Максимальная высота образца	расстояние 85 мм до точки Вцентрика
Максимальный вес образца	500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°)
Максимальный размер образца	Ø120 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено)

Электронный микроскоп THERMO FISHER SCIENTIFIC Scios 2

Выберите направление