Модуль HTS-XT предназначен для осуществления высокопроизводительного скрининга методом ИК-Фурье спектроскопии.
Основным преимуществом ИК-спектроскопии является то, что информация о молекулярной структуре содержится в каждом ИК-спектре. Несмотря на то, что высокопроизводительные методы обычно используют специфические маркеры для анализа определенных параметров, ИК-анализ на микропланшете позволяет получать информацию о молекулярной структуре без их использования. ИК-Фурье спектроскопия также позволяет одновременно определять несколько параметров за одно измерение.
HTS-XT использует ПО OPUS/LAB для автоматической регистрации спектров и анализа большого количества образцов. Для количественного анализа нескольких компонентов в сложных системах используют современные методы многопараметрического анализа PLS (Partial Least Squares). Для качественного анализа доступны такие алгоритмы анализа как корреляция спектров, PCA (Principal Component Analysis) и ANN (Artifical Neural Networks). Хранение параметров измерения и результатов анализа в logfile позволяет осуществлять перенос данных во внешние программы или системы LIMS (Laboratory Information Management Systems).
Области применения HTS-XT:
- Идентификация микроорганизмов.
-
Определение загрязнений.
-
Характеризация клеток.
-
Анализ почв.
-
Идентификация и определение типа алмазов.